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◇部分国家发明专利(1)
作者:[] 文章来源:[ ] 发布时间:[2017-07-13] 阅读次数:[]

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自对准槽栅CMOS集成电路制造方法

00114825.7

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一种16位微处理器的系统结构

03114501.9

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双算术逻辑单元精简指令集8位微控制器

200510041649.9

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碳化硅金属半导体场效应晶体管

03105805.1

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III-V族化合物材料上原位淀积SiO2金属膜的方法

200510042671.5

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金属有机物化学气相淀积设备的恒流配气系统及控制方法

200510042809.1

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GaN半导体材料的异质外延方法

200510043168.1

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垂直型宽禁带半导体器件结构

200510043057.0

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磷化锢材料上原位淀积高介电常数Al2O3和金属膜的方法

2005100962334.1

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GaN基化合物材料上原位淀积高介电常数Al2O3和金属膜的方法

200510096233.7

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一种单次生长制备复合多量子阱结构的方法

200610041962.7

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GaN单晶缺陷种类和密度的检测方法

200610042911.6

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一种大面积自支撑宽禁带半导体材料的制作方法

200610105112.9

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基于自支撑的SiC的GaN器件及制作方法

200610105132.6

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化合物半导体微波大功率器件中的空气桥制作方法

200710018147.3

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基于Al2O3封底的GaN薄膜的生长方法

200710018353.4

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基于组份渐变GaN MISFET的GaN器件及制备方法

200710018772.8

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InAlN/GaN异质结增强型高电子迁移率晶体管结构及制作方法

200810017777.3

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适用于氮化镓器件N型欧姆接触制作方法

200810150273.9

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